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隨著汽車行業(yè)的發(fā)展及進(jìn)步，汽車安全成為全球關(guān)注的問題。AEC-Q認(rèn)證就是國(guó)際汽車電子協(xié)會(huì)設(shè)立的車規(guī)驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)。廣東優(yōu)科檢測(cè)是獲得CNAS資質(zhì)認(rèn)可的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力，可提供AEC-Q檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)，并可出具國(guó)際認(rèn)可的第三方AEC-Q測(cè)試報(bào)告。

AEC-Q認(rèn)證的范圍

AEC-Q100(集成電路IC)

AEC-Q101(離散組件)

AEC-Q102(離散光電LED)

AEC-Q104(多芯片組件)

AEC-Q200(被動(dòng)組件)

AEC-Q認(rèn)證的重要性

想要進(jìn)入汽車領(lǐng)域，打入汽車電子大廠供應(yīng)鏈，必須取得兩張門票，第一張是由北美汽車產(chǎn)業(yè)所推的AEC-Q可靠性標(biāo)準(zhǔn)；第二張門票，則要符合零失效的供應(yīng)鏈質(zhì)量管理標(biāo)準(zhǔn)ISO/IATF 16949規(guī)范。

AEC-Q認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目

加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試

偏高濕度、溫度循環(huán)、功率溫度循環(huán)、高溫儲(chǔ)存、鹽霧測(cè)試、濕度抵抗、機(jī)械沖擊、變頻振動(dòng)、恒加速應(yīng)力、蓋板扭力測(cè)試、芯片切斷、跌落測(cè)試

加速壽命模擬測(cè)試

高溫工作壽命、早期失效率、熱沖擊、旋轉(zhuǎn)壽命、壽命終止模擬驗(yàn)證

封裝組合整裝測(cè)試

邦線切應(yīng)力/拉力、錫球切應(yīng)力、可焊性、引線完整性、剪切強(qiáng)度、斷裂強(qiáng)度、抗焊接熱、端子強(qiáng)度

芯片晶圓可靠度測(cè)試

電遷移、介質(zhì)擊穿、熱載流子注入、負(fù)偏壓溫度不穩(wěn)定性、應(yīng)力遷移

電氣特性確認(rèn)測(cè)試

人體模式/機(jī)器模式靜電放電、ESD、帶電器件模式靜電放電、閂鎖效應(yīng)、電分配、故障分級(jí)、電熱效應(yīng)引起的柵漏、電磁兼容、短路特性描述、軟錯(cuò)誤率、瞬時(shí)電傳導(dǎo)、短路失效電流持久性

瑕疵篩選監(jiān)控測(cè)試

部件平均測(cè)試、統(tǒng)計(jì)良率分析

封裝凹陷整合測(cè)試

粗/細(xì)漏檢、內(nèi)部水汽含量

破壞性物理分析（DPA）

AEC-Q認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)

AEC-Q001 零件平均測(cè)試指導(dǎo)原則

AEC-Q002 統(tǒng)計(jì)式良品率分析的指導(dǎo)原則

AEC-Q003 芯片產(chǎn)品的電性表現(xiàn)特性化的指導(dǎo)原則

JEDEC JESD-22 封裝器件可靠性測(cè)試方法

MIL-STD-883 微電子測(cè)試方式和程序

GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

EIA -469 破壞性的物理分析

MIL-STD-202 電子和電氣元器件測(cè)試方法

J-STD-002 可焊性規(guī)格

MIL-PRF-27 電感/變壓器測(cè)試方法

JESD22-A121 測(cè)量錫及錫合金表面涂層的錫須生長(zhǎng)的測(cè)試方法

MIL-STD-202G  美國(guó)國(guó)防部電子電氣零部件測(cè)試方法

JESD22-A104E 溫度循環(huán)測(cè)試方法

JESD22-B100B物理尺寸

JEDEC J-STD-002E JEDEC（固態(tài)）產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性標(biāo)準(zhǔn)全系列（JEDEC+ASTM）-最齊全、最完整及最新版

TS16949汽車行業(yè)生產(chǎn)件與相關(guān)服務(wù)件的組織實(shí)施ISO9001的特殊要求

ISO16750-1 道路車輛 - 電氣和電子裝備的環(huán)境條件和試驗(yàn)

ISO26262道路車輛功能安全標(biāo)準(zhǔn)

GMW3172通用電氣功能元件通用規(guī)范

AEC-Q認(rèn)證測(cè)試失效判定依據(jù)

應(yīng)力試驗(yàn)后的失效判據(jù)（出現(xiàn)以下任一標(biāo)準(zhǔn)都判定為失效）

1. 不符合規(guī)格書規(guī)定的參數(shù)范圍；

2. 環(huán)境試驗(yàn)前后參數(shù)值變化未保持在附錄規(guī)定的±x%以內(nèi)，超過要求的都必須由供應(yīng)商和用戶確定；

3. 由于環(huán)境試驗(yàn)出現(xiàn)物理損壞（遷移、腐蝕、機(jī)械破壞、分層等）；

4. 有些物理損壞可能由供應(yīng)商和用戶同意認(rèn)為僅僅是外觀不良而不影響認(rèn)證結(jié)果；

5. 如果失效原因被供應(yīng)商和用戶認(rèn)為是由于處理不當(dāng)、測(cè)試板連接、ESD或其它跟測(cè)試條件無關(guān)的原因引起，這些失效可以被忽略，但應(yīng)呈現(xiàn)在報(bào)告中。

AEC-Q認(rèn)證檢測(cè)報(bào)告辦理流程

1. 業(yè)務(wù)咨詢：申請(qǐng)人提供產(chǎn)品資料、圖片及測(cè)試要求給我司；

2. 工程報(bào)價(jià)：根據(jù)申請(qǐng)人提供的資料，工程師作出評(píng)估，確定測(cè)試項(xiàng)目，并向申請(qǐng)方口頭報(bào)價(jià)；

3. 提供資料：申請(qǐng)方接受口頭報(bào)價(jià)后，測(cè)試樣品提交到我司；

4. 支付款項(xiàng)：收到樣品后向申請(qǐng)方發(fā)出書面報(bào)價(jià)，申請(qǐng)方根據(jù)書面報(bào)價(jià)安排付款；

5. 樣品測(cè)試：依照所適用的標(biāo)準(zhǔn)或客戶要求進(jìn)行產(chǎn)品測(cè)試；

6. 出具報(bào)告：測(cè)試完成實(shí)驗(yàn)室出具測(cè)試報(bào)告，結(jié)案。

AEC-Q認(rèn)證檢測(cè)周期

根據(jù)不同產(chǎn)品，公司將不同產(chǎn)品將定制不同的周期時(shí)間，具體時(shí)間因產(chǎn)品而異。

以上就是關(guān)于AEC-Q認(rèn)證的全部?jī)?nèi)容，希望對(duì)您有所幫助！優(yōu)科實(shí)驗(yàn)室具備AEC-Q100/101/102/103/104/200標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力，可提供aec-q101半導(dǎo)體分立器件應(yīng)力測(cè)試、車規(guī)級(jí)集成電路、分立半導(dǎo)體器件、光電半導(dǎo)體器件、傳感器、被動(dòng)元件AEC-Q檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)，歡迎您來電咨詢！