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文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2023-11-07 瀏覽數(shù)量：
AEC-Q200認證的環(huán)境試驗條件，主要是依據(jù)MIL-STD-202與JEDEC22A-104規(guī)范來制定的，不同的零件除了試驗溫度不一樣之外，其施加電源（電壓、電流、負載）要求也會有所不同，高溫儲存屬于不施加偏壓與負載的環(huán)境試驗。
優(yōu)科檢測是專業(yè)第三方AEC-Q200認證機構(gòu)，實驗室具備AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項檢測資質(zhì)和CNCA發(fā)證能力，接下來為大家介紹AEC-Q200認證高溫儲存試驗要求。
電子及電氣元件試驗方法 MIL-STD-202H:2015 Method 108
1. 薄膜電容、網(wǎng)絡(luò)低通濾波器、網(wǎng)絡(luò)電阻、熱敏電阻、可變電容、可變電阻、陶瓷共鳴器、EMI干擾抑制器、EMI干擾過濾器：85℃/1000h；
2. 電感、變壓器、電阻：125℃/1000h；
3. 變阻器：150℃/1000h；
4. 鉭電容、陶瓷電容、鋁電解電容：最大額定溫度/1000h。
1. 每個環(huán)境應(yīng)力測試項目前后都要進行電參數(shù)測試，特別要求除外。
2. 1000小時的長時間老化測試會額外增加250，500，1000小時幾個階段。
3. 一般電參數(shù)測試會是在室溫狀態(tài)（25±5℃）下進行，應(yīng)力測試完成后24±4小時內(nèi)進行。
4. 電參數(shù)測試需在客戶規(guī)格書中宣稱的低溫，室溫，高溫中進行測試。
5. AEC-Q200測試的接受條件和要求參數(shù)均依據(jù)客戶規(guī)格書進行判定，所有測試只接受零失敗。
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